Lichtinduzierte Effekte beim elektronischen Transport durch atomare metallische Punktkontakte

a) Elektronischer Aufbau. Die beiden Arbeitselektroden (WE1; WE2) wurden mittels Schattenbedampfung auf ein Glassubstrat aufgebracht. Die Dicke beträgt 100 nm, der Abstand 50 nm. Die Refenenz- (RE) und Gegenelektrode (CE) bestehen aus hoch reinem Silberdraht. Der Elektrolyt ist eine Mischung aus AgNO₃ (2 mM) und HNO₃ (0.1 M) in Millipore Wasser. Eine Spannung von -12,9 mV wird zwischen beiden Elektroden angelegt, um Leitwertmessungen an metallischer Punktkontakten durchzuführen. Der Operationsverstärker erzeugt an der Arbeitselektrode WE1 eine virtuelle Masse, an der die Spannung gemessen wird. b) REM Aufnahme der Au Elektroden; der Spalt zwischen den Elektroden ist erkennbar durch die Grenze der abgeschiedenen Silberkristallite, knapp links der Bildmitte (Bildausschnitt beträgt 200 × 150 μm²).

Zyklovoltamogramm mit und ohne Beleuchtung der aus Gold bestehenden Arbeitselektrode. Als Elektrolyt wurde AgNO₃ eingesetzt. Die Rasterrate betrug 20 mV/s

Oben: Mikroskopaufnahme einer MCBJ vor der electrochemischen Abscheidung von Ag (Hellfeldmodus). Unten: Mikroskopaufnahmen nach der Abscheidung von Ag (Dunkelfeldmodus).

a) Ortsaufgelöste Leitwertänderungen bei der Beleuchtung der Probe mit einer Wellenlänge von 488 nm; die schwarzen Linien stellen die Kontour der metallischen Struktur dar. Die maximale Leitwertänderung tritt direkt an der Engstelle auf. b) Ortsaufgelöste Leitwertänderungen bei der Beleuchtung der Probe mit einer Wellenlänge von 648 nm; wiederum stellen die schwarzen Linien die Kontour der metallischen Struktur dar. Die beiden maximalen Leitwertänderungen treten im Abstand von etwa 15 μm zur Engstelle auf.